Röntgenstruktuurianalüüs: erinevus redaktsioonide vahel

Eemaldatud sisu Lisatud sisu
P (inglise keeles ''x-ray crystallography'')
23. rida:
 
===Röntgenikiirgus===
[[Röntgenikiirgus|Röntgenikiirguse]] avastajaksavastamise aastaks loetakse 1895. aastalaastat loetakseja avastajaks [[Wilhelm Conrad Röntgen|Wilhelm Röntgenit]]. Ta liigitas sedaavastatud kiirgust kui tundmatut (X-) kiirgust. Alles 1912 aastal, kuidpeale üsnakatset, peakus leitiselgus, et tegemiströntgenkiirgusel tekib difraktsioon, kui kiirgus on interaktsioonis kristalliga ([[Max von Laue]] katse) sai selgeks, et röntgenkiirguse puhul on tegemist lühikese lainepikkusega [[Elektromagnetkiirgus|elektromagnetkiirgusega]], mis on samalaadne ehknagu [[Valgus|valgusegavalgus]]. TemaRöntgeni avastuse tõttu kutsutakse tänapäevani elektromagnetkiirgust [[Lainepikkus|lainepikkuste]] vahemikus 0,01–10 [[Nanomeeter|nm]] röntgenikiirguseks.
 
Röntgenikiirgust hakati kasutama ära selle [[Mateeria|ainega]] [[Interaktsioon|vastastikmõju]] tõttu. Neid vastastikmõjusid liigitatakse [[Valguse neeldumine|neeldumiseks]] ning [[Comptoni efekt|Comptoni]] ja [[Rayleigh' hajumine|Rayleigh' hajumiseks]] (sh [[Difraktsioon|difraktsiooniks]]). Röntgenikiirgus sobib hästi aine atomaarsel tasemel uurimiseks, sest selle lainepikkus on samas järgus aatomivaheliste kaugustega kristallvõres. Seega võib jälgida kristalli läbimisel röntgenikiirguse intensiivsuse maksimume teatud suundades vastavalt läbitava kristalli sümmeetriale, mis tekivad [[Konstruktiivne interferents|konstruktiivsel interferentsil]] suure korrapäraga paiknevatelt aatomitelt (kristalliaatomitelt) elastselt hajudes.