Ava peamenüü
Väino Sammelselg, 2009

Väino Sammelselg (sündinud 13. novembril 1949 Tallinnas) on Eesti füüsik, keemik ja materjaliteadlane.[1] Ta on Tartu Ülikooli anorgaanilise keemia professor ja anorgaanilise keemia õppetooli juhataja.[2]

Sisukord

EluluguRedigeeri

Väino Sammelselg on teenistuja poeg. Ta lõpetas 1968 Kohtla-Järve Keemiatehnikumi ja 1973 Tartu Riikliku Ülikooli füüsikaosakonna. Oli 1981–1985 kaugõppes aspirant Eesti NSV TA Füüsika Instituudi (FI) juures. Füüsika-matemaatikakandidaat (1989, FI), väitekiri "Электронно-зондовые исследования твердых растворов AIGaAsSb и создание на их основе гетероэпитаксиальных структур".[1]

Täiendas end 1976 röntgen-mikroanalüüsis Leningradi A. F. Joffe nimelises Füüsika-Tehnoloogia Instituudis, 1987 läbivalgustava elektronmikroskoopia alal Moskva Riikliku Haruldaste Muldmetallide Instituudis, 1993 aatomijõu- ja tunnelmikroskoopias Helsingi Tehnikaülikoolis, 1994 Åbo Akadeemias, 1996 Lundi Ülikoolis.[1]

Oli 1972–1973 Tartu Ülikooli eksperimentaalfüüsika kateedri laborant, 1975–1990 FI pooljuhtide füüsika labori ja kiletehnoloogia töörühma insener, vaneminsener, rühmajuht ja teadur, 1990–2003 FI kiletehnoloogia töörühma vanemteadur, 1997–2002 ka korduvalt (lühiajaliselt) Helsingi Tehnikaülikooli külalisteadur, 2003– Tartu Ülikooli anorgaanilise keemia professor, õppetooli juhataja. Lugenud aastast 1992 Tartu Ülikoolis loengukursusi pinna mikroskoopiast, füüsikalise analüüsi meetoditest, tahkise keemiast, tahkispinna omadustest jm.[1]

TeadustööRedigeeri

 
Väino Sammelselg tutvustamas Tartus valmistatud aatomkihtsadestuse reaktorit

Uurimisvaldkonnad: tahkiste, polümeersete ja bioorgaaniliste (üli)õhukeste kilede ja -struktuuride mikroskoopia ja lokaalne spektroskoopiline analüüs, nende kilede baasil loodud hetero- ja hübriidstruktuuride tehnoloogia. Juurutanud esimesena Eestis skaneeriva elektronmikroskoopia ja elektronsond-mikroanalüüsi meetodid, uurinud viimase meetodi lokaalsuse probleeme ning täiustanud õhukeste kilede ja heterostruktuuride elementse koostise analüüsi ning struktuuridefektide uurimise metoodikaid. Võtnud esimesena Eestis kasutusele teravikmikroskoopia tahkispinna, oksiid- ja polümeerkilede nanotasemel karakteriseerimiseks. Juurutanud metoodikad üliõhukeste kilede ja siirdekihtide uurimiseks sünkrotronkiirgusergastusega fotoelektronspektroskoopia ja -mikroskoopia abil. Tähtsamateks uurimis- ja rakendustulemusteks on mitmete mikroskoopia, spektroskoopia ja füüsikaliste mikroanalüüsi meetodite arendamine ja kombineeritud rakendamine (üli)õhukeste kilede lokaalsete füüsikaliste ja keemiliste omaduste määramiseks, ka oksiid- ja polümeerkilede kasvu algfaasi ja edasise kasvu iseloomustamiseks ja selle abil kiletehnoloogiate arendamisele kaasaaitamine ning eriomadustega seadiste (pooljuhtlaserid, valgusdioodid, gaasisensorid) ning funktsionaalsete pindade ja katete (korrosioonivastased katted) väljatöötamisel osalemine. Mitme rahvusvahelise projekti täitja ja juht. Eesti Füüsika Seltsi asutajaliige. Euroopa Mikrosondanalüüsi Seltsi (EMAS) liige. Eesti NSV riiklik preemia (1982, kollektiivis), Eesti Vabariigi teaduspreemia (2007, kollektiivis). Üle 200 teadustrükise, 3 autoritunnistust (kaasautor).[1]

TeoseidRedigeeri

  • Исследование условий получения совершенных гетероструктур в системе A1xGA1-xAsySb1-y/GaSb (kaasautor). // Кристаллография 29 (1984)
  • Morphology and structure of TiO2 thin films grown by atomic layer deposition. (kaasautor). // J. Cryst. Growth 148 (1995)
  • Electrochemical properties of cation sensitive polypyrrole films (kaasautor). // J. Electroanal. Chem. 448 (1998)
  • Influence of substrate temperature on atomic layer growth and properties of HfO2 thin films. (kaasautor). // Thin Solid Films 340 (1999)
  • Composition and thickness determination of thin oxide films: comparison of different programs and methods (kaasautor). // J. Anal. At. Spectrom. 14 (1999)
  • Study of thin oxide films by electron, ion and synchrotron radiation beams (kaasautor). // Microchim. Acta 139 (2002)
  • Characterization of glucose oxidase immobilization onto mica carrier by atomic force microscopy and kinetic studies (kaasautor). // Biomolecular Eng. 19 (2002)
  • Gas sensing properties of epitaxial SnO2 thin films prepared by atomic layer deposition (kaasautor). // Sens. Actuators B: Chemical 93 (2003)
  • Engineering structure and properties of hafinium oxide films by atomic layer deposition temperature (kaasautor). // Thin Solid Films 479 (2005)
  • XPS and AFM investigation of hafnium dioxide thin films prepared by atomic layer deposition on silicon (kaasautor). // J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 156–158 (2007).

ViitedRedigeeri

  1. 1,0 1,1 1,2 1,3 1,4 Eesti teaduse biograafiline leksikon. 3. köide: N–Sap TTEÜ, avaldatud elektrooniliselt 2013 Eesti teaduse biograafiline leksikon, 3. köide
  2. Töötaja Tartu Ülikooli keemia instituut

KirjandusRedigeeri

  • ENSV riiklike preemiate määramisest. // Rahva Hääl, 20. detsember 1982
  • Tartu Ülikoolile kingiti elektronmikroskoop. // Eesti Päevaleht (Estinska Dagbladet), 5. mai 1993
  • Åslund, M. Studsviksgåva till Estland. // Södermanlands Nyheter, 26. august 1992
  • Veskimäe, R. Juttu eestlasega, kes jagab Nobeli preemiaid. Intervjuu Indrek Martinsoniga. // Horisont 2/2003
  • Väino Sammelselg valiti professoriks. // Universitas Tartuensis, 13. juuni 2003
  • V. Päärt. Kiletehnoloogid olid maailmast kümme aastat ees. // Postimees, 4. aprill 2006
  • J. Allik, "ISI andmebaasid ja nende kasutamine teaduse hindamisel" vt http://www.kbfi.ee/Eesti/Events/seminarid.html
  • Tartu Ülikooli Füüsika Instituut 1946–1998. Koost E. Vesman, vt http://www.fi.tartu.ee/kroonika.htm
  • Päärt, V. Edu võti: ole kümme aastat ajast ees. // Universitas Tartuensis (2009) 1 (2369)
  • Koduleht: www.fi.tartu.ee/~sam/
  • Eesti teaduse biograafiline leksikon. 3. köide: N–Sap TTEÜ, avaldatud elektrooniliselt 2013

VälislingidRedigeeri

  Käesolevas artiklis on kasutatud "Eesti teaduse biograafilise leksikoni" materjale.