Skaneeriv elektronmikroskoop: erinevus redaktsioonide vahel

'''Skaneeriv elektronmikroskoop''' (''Scanning electron microscope'', '''SEM''') on [[mikroskoop]], mis võimaldabloob [[kujutis]]e saamist kuikujutise uuritavat proovi skaneerida [[kõrge energiagaenergia]]ga elektronkiire abil skaneerides. Proovi pinda läbivad elektronid interakteeruvad [[aatom]]itega, produtseerides [[signaal]]e, mis sisaldavad informaatsiooni proovi pinna [[topograafia]]st, [[koostis]]est, [[elektrijuhtivus]]est ning teistest omadustest.

SEM võimaldab saavutada oluliselt tugevamat suurendust kui [[valgusmikroskoop|valgusmikroskoobid]] tulenevalt elektronide lühikesest [[lainepikkus]]est. Tänu väga piiratud elektronkiirele on SEM-il lai [[teravussügavus]], mis tähendab, et samaaegselt [[fookus]]es olev prooviala on üsna suur. SEM-i eeliseks on samuti [[suurendus]]e ulatus, lubades uurijal üsna lihtsalt fokuseerida huvipakkuvat ala objektil, mis oli eelnevalt skaneeritud väiksema suurendusega. Erinevalt transmissioonielektronmiksoskoobisttransmissioonielektronmikroskoobist, [[TEM]]-ist on kujutis kolmemõõtmeline.

Professor ''sir'' [[Charles Oatley]] ja tema üliõpilasest uuringukaaslane [[Dennis McMullan]] alustasid uuringuid ning arendustöid skaneeriva elektronmikroskoobi konstrueerimiseks [[1948]]. aastal. [[1965]]. aastal jõudsid nad esimese tööstuslikult toodetava SEM-i ehitamiseni.<ref [http://www2.eng.cam.ac.uk/~bcb/semhist.htm]name=Scientific Imaging Group