Erinevus lehekülje "Fail:Sio2 ühikrakk.PNG" redaktsioonide vahel

täpsem info
({{pildiinfo | kirjeldus = a) SiO2 ühikrakk, b) metüülasendatud SiO2 ühikrakk | kuupäev = 25.01.2020 | allikas = Low-k dielectric materials | autor = D. Shamiryan et al }})
 
(täpsem info)
 
| kirjeldus = a) SiO2 ühikrakk, b) metüülasendatud SiO2 ühikrakk
| kuupäev = 25.01.2020
| allikas = [https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369702104000537 Low-k dielectric materials], Materials Today. Volume 7, Issue 1, January 2004. Pages 34-39
| autor = D. Shamiryan et al, 2004
}}