Erinevus lehekülje "Interferents" redaktsioonide vahel

Lisatud 239 baiti ,  3 aasta eest
P
parandasin skripti abil kriipsud + Korrastasin skripti abil viiteid
P (parandasin skripti abil kriipsud + Korrastasin skripti abil viiteid)
 
==Mehhanism==
[[Superpositsiooniprintsiip|Superpositsiooni]] printsiibi kohaselt on igas ruumipunktis nihe võrdne lainete nihete vektorsummaga. Kui ruumipunktis satuvad kokku kaks laineharja või kaks lainenõgu, siis on nihe võrdne lainete amplituutide summaga, lained tugevdavad teineteist - tekib konstruktiivne interferents. Kui ühe laine hari satub kokku teise laine nõoga, siis on nihe võrdne lainete amplituutide vahega, lained nõrgendavad teineteist - tekib destruktiivne interferents.
{|
|-
 
==Interferentsiks vajalikud tingimused==
Kahe valguslaine stabiilse interferentsipildi jaoks peavad nende sagedused olema praktiliselt võrdsed ehk lained peavad olema kvaasimonokromaatsed. Suur sageduste erinevus tekitaks kiirelt muutuva, ajast sõltuva faasivahe, mille tõttu keskmistuks intensiivsuse interferentsiliige vaatlemise intervallis nulliks. Kui aga mõlemad allikad kiirgavad koherentset valget valgust, siis interfereeruvad mõlemate lainete samasagedusega osad ning tekib palju sarnaseid, natuke erinevalt asetsevaid interferentsimustreid üksteise peale ning summaarne muster on vaadeldav.<ref name = "hecht92>{{cite book | first=Eugene|last=Hecht|year=1998|title=Optics|edition=3rd ed.|publisher=Addison Wesley|isbn=0201838877}}" §9.2</ref>
 
Teine tähtis inteferentsiks vajalik tingimus on laineallikate [[koherentsed lained|koherentsus]]: vaadeldavas punktis peab lainete faasivahe olema konstantne.<ref name = "hecht92" />
 
Lisaks eelnevale ei tohi interfereeruvad olla lained [[polarisatsioon|polariseeritud]] ristuvates tasandites, liituda saavad vaid elektrivälja paralleelsed komponendid.<ref name = "hecht92" />
 
==Interferomeetrite tüübid==
 
===Lainefrondi jagamise interferomeetrid===
Interferomeetris, kus toimub lainefrondi jagamine jaotatakse üks lainefront mitmeks koherentseks osaks, mis interfereeruvad.<ref>{{cite book | first=Eugene|last=Hecht|year=1998|title=Optics|edition=3rd ed.|publisher=Addison Wesley|isbnname=0201838877}}"vkTPr" §9.3</ref>
 
[[File:Ebohr1_IP.svg|thumbnail|Youngi kahe pilu eksperimendi lainefrondid]]
 
===Amplituudi jagamise interferomeetrid===
Amplituudi jagamise interferomeetrite puhul jaotatakse kiir optilise keskkonna piirpinnal peegeldunud ja murdunud kiireks, mis on koherentsed. Eristatakse samakalde ja samapaksuse interferentsi.<ref>{{cite book | first=Eugene|last=Hecht|year=1998|title=Optics|edition=3rd ed.|publisher=Addison Wesley|isbnname=0201838877}}"tCcVm" §9.4</ref>
 
Samakalde interferents tekib näiteks tasaparalleelse konstante paksusega klaasplaadi puhul. Omavahel interfereeruvad klaasplaadi mõlemalt pinnalt peegeldunud kiired ning optiline käiguvahe sõltub algse kiire langemisnurgast.
==Valguse interferentsi rakendusi==
[[Image:Antireflection coating split pic.jpg|thumb|Klaas, millele on kantud peegeldumist vähendav kiht]]
Materjalidele on võimalik sadestada [[Õhukese kile interferents|õhukese kile]], mis võimendab või vähendab peegeldusi. Peegeldust võimendades saab valmistada peegleid ning optilisi filtreid, mis osasid lainepikkusi lasevad läbi, aga teisi peegeldavad.[[Valge#Valge_valgus|Valge valguse]] värvilist interferentsipilti saab kasutada valmistamaks rahatähtede turvaelementide, mille värvus sõltub vaatlemisnurgast.<ref>{{cite book | first=Eugene|last=Hecht|year=2002|title=Optics|edition=4nd ed.|publisher=Addison Wesley|isbnname=0321188780}}"PiIUx" §9.8</ref> Prilliklaasidele kaetakse peegeldumisvastane pinnakate (AR kate), et prillide kasutamisel jõuaks silma sama hele valgus.
 
Interferomeetriga saab defineerida ja kalibreerida pikkusestandardeid. Kui [[SI-süsteem|SI süsteemis]] oli [[meeter]] defineeritud kahe märgistuse vahemaana plaatina-iriidiumi sulamist etalonil, mõõtsid Michelson ja Benoît punase kaadiumi joone lainepikkuse. Kuuskümmend aastat hiljem võeti meetri definitsiooniks pikkus, mis on võrdne krüptooni isotoobi 86 poolt tasemete 2p<sub>10</sub> ja 5d<sub>5</sub> vahelisel siirdel vaakumis kiiratava valguse 1 650 763,73 lainepikkusega.<ref>I. Saveljev, Füüsika üldkursus 3, 1979, lk 78, Tallinn name="Valgus2Zd1S"< /ref> 1983. aastal defineeriti meeter ümber pikkusena, mille läbib valgus vaakumis 299792458-1 sekundi jooksul.
 
[[Michelsoni-Morley eksperiment]] oli üks esimestest katsetest, mis lükkas ümber valguse levikuks vajava eetri teooria ning kinnitas valguskiiruse absoluutsust, millest arenes välja [[erirelatiivsusteooria]].
 
17. ja 18. sajandil oli levinud [[Isaac Newton|Newtoni]] [[korpuskulaarteooria]], mille kohaselt valgus on osakeste voog. [[1803|1803.]] aastal läbi viidud [[Youngi eksperiment|Youngi eksperimendi]]<ref>{{Cite journal|first name="XYyqb" Thomas|last = Young|date = 1804-01-01|url = http://books.google.com/?id=7AZGAAAAMAAJ&pg=PA1|title=The Bakerian Lecture: Experiments and calculations relative to physical optics|journal=Philosophical Transactions of the [[Royal Society]] of London|volume = 94|pages = 1–16|publisher = Royal Society of London.|doi = 10.1098/rstl.1804.0001|postscript = <!--None-->}}. (Märge: See loeng esitati Kuninglikule Ühingule 24. novembril 1803. aastal)</ref> tulemuseks saadud interferentsipilti ei saanud korpuskulaarteooriaga seletada, mistõttu sai üldise tunnustuse valguse laineteooria. Hilisemad eksperimendid näitasid, et interferentsipilt saadakse ka pilusid elektronidega pommitades<ref>{{cite web | title name="9OQP9" Jönsson C (1974). Electron diffraction at multiple slits. American Journal of Physics, 42:4–11 | url = http://dx.doi.org/10.1119/1.1987592 }}</ref>, pannes aluse laine-osakese dualismile.
 
==Vaata ka==
 
==Viited==
{{viited|1=2|allikad=
{{reflist|2}}
<ref name="hecht92">{{cite book | first=Eugene|last=Hecht|year=1998|title=Optics|edition=3rd ed.|publisher=Addison Wesley|isbn=0201838877}} §9.2</ref>
<ref name="vkTPr">{{cite book | first=Eugene|last=Hecht|year=1998|title=Optics|edition=3rd ed.|publisher=Addison Wesley|isbn=0201838877}} §9.3</ref>
<ref name="tCcVm">{{cite book | first=Eugene|last=Hecht|year=1998|title=Optics|edition=3rd ed.|publisher=Addison Wesley|isbn=0201838877}} §9.4</ref>
<ref name="PiIUx">{{cite book | first=Eugene|last=Hecht|year=2002|title=Optics|edition=4nd ed.|publisher=Addison Wesley|isbn=0321188780}} §9.8</ref>
<ref name="2Zd1S">I. Saveljev, Füüsika üldkursus 3, 1979, lk 78, Tallinn "Valgus"</ref>
<ref name="XYyqb">{{Cite journal|first = Thomas|last = Young|date = 1804-01-01|url = http://books.google.com/?id=7AZGAAAAMAAJ&pg=PA1|title=The Bakerian Lecture: Experiments and calculations relative to physical optics|journal=Philosophical Transactions of the [[Royal Society]] of London|volume = 94|pages = 1–16|publisher = Royal Society of London.|doi = 10.1098/rstl.1804.0001|postscript = <!--None-->}}. (Märge: See loeng esitati Kuninglikule Ühingule 24. novembril 1803. aastal)</ref>
<ref name="9OQP9">{{cite web | title = Jönsson C (1974). Electron diffraction at multiple slits. American Journal of Physics, 42:4–11 | url = http://dx.doi.org/10.1119/1.1987592}}</ref>
}}
 
[[Kategooria:Füüsika]]
75 786

muudatust