Skaneeriv elektronmikroskoop: erinevus redaktsioonide vahel
Eemaldatud sisu Lisatud sisu
Skaneeriva elektronmikroskoopia loengu raames valmisid meil ka videomaterjalid ja nende viited on nüüd lisatud. |
P Röntgenkiirgus > röntgenikiirgus |
||
15. rida:
[[Pilt:SEM chamber1.JPG|pisi|SEM-i avatud proovikamber]]
[[Pilt:ScanningMicroscopeJLM.jpg|pisi|SEM-i analoog]]
Elektronide allikana kasutatakse [[filament]]e, mida kiirendatakse kuni 50 MV
Objektini jõudnud elektronid hajuvad aatomite elektronikihtidelt ja pidurduvad uuritava pinna niinimetatud [[vastastikmõju]] piirkonnas, mis on 0,1–5 μm paks. See paksus sõltub elektronide energiast, näidise [[aatomnumber|aatomnumbrist]] ja materjali [[tihedus]]est.
36. rida:
===Elektron- ja kondensorläätsed===
Kui [[mähis]]e keerdusid läbib [[elektrivool]], siis tekib tugev magnetväli, mis väljutatakse elektronoptilisse kanalisse [[läätsemagnet]]i "ava" kaudu. See [[telgsümmeetria|telgsümmeetriline]] väli töötab analoogiliselt õhukese koondava läätsega, tuues teljest kaugemal olevad elektronid tagasi
Kahekordne kondensorsüsteem koosneb kahest kondensorläätsest ja on kasutatav nii SEM kui ka TEM juures. Selle ülesanne on kontrollida [[elektronisond]]i parameetreid: pinget, sondi läbimõõtu ja [[konvergentsus]]t.
69. rida:
* [https://www.youtube.com/watch?v=Zd5JUG2GyGY&list=PLsLmmrdahd7PO_3-McU3XWG3m5bczq6mP&index=21 Kuidas töötab skaneeriva elektronmikroskoobi töölaud]
* [https://www.youtube.com/watch?v=5LE-j7jzdS8&index=19&list=PLsLmmrdahd7PO_3-McU3XWG3m5bczq6mP Õhukese lamelli valmistamine fokuseeritud ioonkimbu ja nanomanipulaatori abil]
* [https://www.youtube.com/watch?v=Ow5XgVDSva0&list=PLsLmmrdahd7PO_3-McU3XWG3m5bczq6mP&index=7 Karakteristliku
[[Kategooria:Mikroskoopia]]
|