Redaktsioon: 4. august 2014, kell 17:34 redigeeri Andres (arutelu \| kaastöö) Bürokraadid, Liidese administraatorid, Administraatorid 414 371 muudatust Resümee puudub ← Vanem muudatus		Redaktsioon: 4. august 2014, kell 21:41 redigeeri eemalda Kruusamägi (arutelu \| kaastöö) Administraatorid 74 951 muudatust PResümee puudub Uuem muudatus →
1. rida: [[Pilt:Misc pollen.jpg\|pisi\|Neid [[õietolm]]uterasid on skaneeritud elektronmikroskoobiga näitamaks [[mikrograaf]]i teravussügavust.]] [[Pilt:Tradescantia tolmukakarvad ja õietolm.JPG\|pisi\|Tihti värvitakse saadud pilte eesmärgiga lihtsustada struktuuride mõistmist. Sageli tehakse seda ka esteetilistel kaalutlustel. Pildil on üheidulehelise taime ''[[Tradescantia]]'' tolmukakarvad ja õietolm. Autor: [[Heiti Paves]], TTÜ.]] '''Skaneeriv elektronmikroskoop''', (lühendina '''SEM''') on [[mikroskoop]], mis loob kujutise uuritavat proovi suure [[energia]]ga [[elektronikiir]]e abil [[skaneerimine\|skaneerides]]. Kiirt moodustavad [[elektron]]id interakteeruvad pinda moodustavate [[aatom]]itega, tekitades [[signaal]]e, mis sisaldavad teavet pinna kuju, [[koostis]]e, [[elektrijuhtivus]]e ja muude omaduste kohta. SEM võimaldab oluliselt suuremat [[suurendus]]t kui [[valgusmikroskoop]], sest elektronide [[lainepikkus]] on väike. Elektronkiir on väga piiratud ja sellepärast on SEM-il lai [[teravussügavus]], mis tähendab, et samaaegselt [[fookus]]es olev prooviala on üsna suur. See lubab uurijal fokuseerida objektil huvipakkuvat ala, mida eelnevalt skaneeriti väiksema suurendusega. Erinevalt [[transmissioonielektronmikroskoop\|transmissioonielektronmikroskoobist]] (TEM) on kujutis kolmemõõtmeline.

Skaneeriv elektronmikroskoop: erinevus redaktsioonide vahel