Skaneeriv elektronmikroskoop: erinevus redaktsioonide vahel
Eemaldatud sisu Lisatud sisu
Kruusamägi (arutelu | kaastöö) Resümee puudub |
Resümee puudub |
||
5. rida:
SEM võimaldab oluliselt suuremat [[suurendus]]t kui [[valgusmikroskoop]], sest elektronide [[lainepikkus]] on väike. Elektronkiir on väga piiratud ja sellepärast on SEM-il lai [[teravussügavus]], mis tähendab, et samaaegselt [[fookus]]es olev prooviala on üsna suur. See lubab uurijal fokuseerida objektil huvipakkuvat ala, mida eelnevalt skaneeriti väiksema suurendusega. Erinevalt [[transmissioonielektronmikroskoop|transmissioonielektronmikroskoobist]] (TEM) on kujutis kolmemõõtmeline.
Objektide uurimisel SEM-iga on olulised proovide ettevalmistamine, näidise kuivatamine ja elektronkiirest põhjustatud [[
==Ajalugu==
| |||