Skaneeriv elektronmikroskoop: erinevus redaktsioonide vahel

Eemaldatud sisu Lisatud sisu
Luckas-bot (arutelu | kaastöö)
P r2.7.1) (Robot: lisatud lb:Rasterelektronemikroskop
20. rida:
 
==Skaneeriva elektronmikroskoobi tööpõhimõte==
 
[[Pilt:Skaneeriva elektornmikroskoobi põhimõtteskeem.jpg|pisi|left| Skaneeriva elektronmikroskoobi põhimõtteskeem]]
 
58. rida:
TEM-is suudab kondensorsusteem elektronkiire otse objektile, kuid SEM-i puhul on kondensorsüsteemi ja objekti vahel veel objektiivlääts, mis kontrollib sondi fokuseeringut objekti tasandil ja suurendab sondi konvergentsust.
<ref> {{netiviide | URL = http://www.fi.tartu.ee/~kiku/Loeng_14_SEM.pdf
| Pealkiri ="Skaneeriv elektronmikroskoopia(SEM)"| Autor = Väino Sammelselg | Kasutatud = 13.12.2011 }} </ref>
 
 
 
 
==Proovi ettevalmistamine==