Skaneeriv elektronmikroskoop: erinevus redaktsioonide vahel
Eemaldatud sisu Lisatud sisu
Luckas-bot (arutelu | kaastöö) P r2.7.1) (Robot: lisatud lb:Rasterelektronemikroskop |
|||
20. rida:
==Skaneeriva elektronmikroskoobi tööpõhimõte==
58. rida:
TEM-is suudab kondensorsusteem elektronkiire otse objektile, kuid SEM-i puhul on kondensorsüsteemi ja objekti vahel veel objektiivlääts, mis kontrollib sondi fokuseeringut objekti tasandil ja suurendab sondi konvergentsust.
<ref> {{netiviide | URL = http://www.fi.tartu.ee/~kiku/Loeng_14_SEM.pdf
| Pealkiri ="Skaneeriv elektronmikroskoopia(SEM)"| Autor = Väino Sammelselg | Kasutatud = 13.12.2011 }} </ref>
==Proovi ettevalmistamine==
|